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為全球半導(dǎo)體工業(yè)提供從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)測(cè)試解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商科利登系統(tǒng)有限公司（Credence Systems Corporation，納斯達(dá)克代碼：CMOS）推出業(yè)界性價(jià)比高、性能為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測(cè)試新興的高速計(jì)算和消費(fèi)應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強(qiáng)化了科利登市場(chǎng)領(lǐng)先的Sapphire測(cè)試平臺(tái)。

　　Sapphire D-6432DFT設(shè)備是首款用于高速串行總線的集成測(cè)試解決方案，在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)量和注入信號(hào)，以及掃描/功能性測(cè)試和DC參數(shù)測(cè)量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）方法，助其顯著降低高速半導(dǎo)體器件的總體成本并縮短上市時(shí)間。

　　這一新設(shè)備是與領(lǐng)先的微處理器生產(chǎn)廠商AMD公司合作開(kāi)發(fā)的。目前，AMD的工程師正采用Sapphire平臺(tái)和D-6432DFT加速其先進(jìn)產(chǎn)品的測(cè)試和上市周期。在全球數(shù)以百計(jì)的Sapphire平臺(tái)裝機(jī)量中，已有200多個(gè)D－6432DFT設(shè)備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺(tái)中，進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試。

　　AMD公司自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）技術(shù)經(jīng)理兼高級(jí)技術(shù)工程師Pete Hodakievic表示：“市場(chǎng)對(duì)高速總線接口測(cè)試和快速數(shù)據(jù)傳輸率提出了越來(lái)越高的要求，迫切需要一種比簡(jiǎn)易承載板環(huán)路測(cè)試技術(shù)更為強(qiáng)勁的測(cè)試方法。同時(shí)，我們又因?yàn)樾枰刂茰y(cè)試成本，而無(wú)法采用傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我們用單次插入即可完成對(duì)先進(jìn)的微處理器芯片進(jìn)行高速環(huán)路測(cè)試、DC參數(shù)測(cè)試，以及掃描和功能測(cè)試。相比全功能測(cè)試，D-6432DFT不僅有更好的測(cè)試覆蓋，還可以顯著降低測(cè)試成本。”

　　為了實(shí)現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來(lái)越多的應(yīng)用。然而，高速總線對(duì)傳統(tǒng)“功能”測(cè)試方法的成本、復(fù)雜性和周期都提出了挑戰(zhàn)。這些不確定因素在低速測(cè)試時(shí)能運(yùn)作無(wú)誤，但速度高于6 Gbps以上時(shí)，則有可能產(chǎn)生風(fēng)險(xiǎn)。目前的“近端”環(huán)路（即利用設(shè)備來(lái)輸出測(cè)試數(shù)據(jù)，再回收數(shù)據(jù)至設(shè)備以進(jìn)行識(shí)別）技術(shù)簡(jiǎn)單、性價(jià)比高，但難以有效地處理抖動(dòng)、信號(hào)變異和協(xié)議性能，從而導(dǎo)致測(cè)試不完全或測(cè)試死角。集成電路制造商需要采用可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，才能對(duì)那些影響設(shè)備和系統(tǒng)性能的關(guān)鍵變量進(jìn)行靈活、全面的測(cè)試。

　　遠(yuǎn)端環(huán)路：卓越的抖動(dòng)測(cè)量和控制，提供更高的價(jià)值

　　Sapphire D-6432DFT有效地應(yīng)用了創(chuàng)新的遠(yuǎn)端環(huán)路技術(shù)，既具有可測(cè)性設(shè)計(jì)的靈活性，又有功能測(cè)試所具備的深層診斷能力。通過(guò)將待測(cè)器件置于高性價(jià)比的智能測(cè)試設(shè)備通道中，延長(zhǎng)了反饋路徑，也首次實(shí)現(xiàn)了高速總線在生產(chǎn)級(jí)的測(cè)試。與以往那種投資多臺(tái)設(shè)備測(cè)試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺(tái)設(shè)備上測(cè)試多達(dá)16個(gè)通道。其優(yōu)勢(shì)包括：

　　 每一通道通過(guò)集成電路實(shí)現(xiàn)同時(shí)的、并行的抖動(dòng)注入和抖動(dòng)測(cè)量，并不需要附加設(shè)備

　　 電壓和時(shí)間域中的全封閉眼圖測(cè)試

　　 除了極低成本的差分測(cè)試，還集成了用于掃描/功能性測(cè)試的400/800 Mbps數(shù)據(jù)子系統(tǒng)

　　 增加了解決信號(hào)完整性問(wèn)題的靈敏度覆蓋檢測(cè)

　　 接收器和發(fā)送器通道可用來(lái)為內(nèi)核邏輯和協(xié)議堆棧提供測(cè)試向量

　　 用于全面DC參數(shù)測(cè)試的器件管腳存取

　　科利登副總裁兼自動(dòng)測(cè)試設(shè)備總經(jīng)理Chetan Desai表示：“與AMD這樣的行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)合作，使我們能夠提供滿足市場(chǎng)需求的方案，幫助客戶充滿信心地進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新并應(yīng)對(duì)上市周期和成本的雙重挑戰(zhàn)。我們很高興推出Sapphire D-6432DFT，這是業(yè)界唯一用于高速器件生產(chǎn)測(cè)試的可行方案。它不僅能滿足今天的市場(chǎng)需求，還可靈活適應(yīng)未來(lái)幾代的產(chǎn)品發(fā)展。”

　　Sapphire D－6432DFT設(shè)備現(xiàn)已投放市場(chǎng)。在7月17日至18日舉辦的Semicon West 展會(huì)期間, 科利登技術(shù)中心展出了Sapphire D-6432DFT設(shè)備，還現(xiàn)場(chǎng)展示了科利登完整的測(cè)試解決方案，包括曾經(jīng)獲獎(jiǎng)的Sapphire平臺(tái)和Diamond 平臺(tái)。